Analytické a diagnostické metódy
Meranie povrchov materiálov pomocou atómovej silovej mikroskopie (AFM), ktorá umožňuje získať trojrozmerný obraz topografie s rozlíšením na nanometrovej úrovni. Služba môže zahŕňať aj analýzu lokálnych fyzikálnych a mechanických vlastností povrchu, ako sú drsnosť, tvrdosť či adhézia.
Prístrojové vybavenie: AFM mikroskop.