Analytické a diagnostické metódyEnergetika a environmentálne technológie
Výstup služby zahŕňa priebeh chemického zloženia po priereze elektródy s využitím zariadenia FIB/SEM, vyhodnotenie mikroštruktúry a analýza povrchu elektród pred elektrochemickým procesom a po procese.
Prístrojové vybavenie: skenovací elektrónový mikroskop s využitím fokusovaného iónového zväzku (SEM/FIB), röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS), transmisná elektrónová mikroskopia (TEM).